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- D5 E; u8 ^8 M* S! [一般判断方法:
/ ~% z6 g2 ?# i$ }) F+ J1。温度法5 T/ w' U% K' c/ S9 B
2。关联元件测试法
8 y& d' p! E! c. S' z' y3。周边电路电压测试法 x9 z0 h4 S/ _! U6 w5 n
北桥好坏判断方法
7 r; K" X! u9 t* t' ?8 p) r; q 一。直接打北桥上或者北桥芯片的周围电容,如果有短路,则北桥坏。* r7 l4 L' v" H6 w, w% _, U; O! q% X- W3 {6 b: H6 }2 S
二。对主供电部分输出电感一端或Q1场管的S极、Q2场管的D极打阻值,在不插CPU或假负载的情况下,即判断北桥好坏:! d3 h# O0 |% ~6 V3 d' j% q) S1 ~2 Q: ]
1。在40左右数值为正常。
r( L2 z0 u/ u1 q9 g! w/ u2。在20-30左右为北桥有轻微损坏。5 ^0 _8 } P4 U# A, K
" k0 S. a4 Q1 t, G$ d6 }6 k3 B3 p9 I3。在10以下说明北桥损坏。6 Q z7 L5 k% o/ v- {5 M& H6 _) p0 H9 ~" z: f6 s, O
三。内存插槽,通过对数据线进行打阻值判断,都为300-800之间数值,说明北桥好;若无穷大,说明北桥虚焊;若有3根或3根以上导通,说明北桥坏。$ @8 m, ?' e: ?" |( B
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南桥好坏判断方法; |* T! e# Y* Y: _, W4 J( ~- s3 c9 k6 s# Z: G0 o
一。IDE口:打2-9、11-19、21-29、37-39针等,对地阻值有600左右且相差不大的数值为南桥正常;如有无穷大或1000以上的数值为南桥虚焊或IDE口到NQ之间的小电阻烧断;如阻值明显偏小为南桥损坏。 }4 U# D; {( a. P
二。USB口:打两个USB口的2、3针的阻值,如有500左右的数值说明南桥正常;如有无穷大说明南桥虚焊或它们到南桥之间的小电阻损坏;如有阻值明显偏小说明南桥损坏。8 E$ y/ Q# L# B- c+ k
. m* z3 V+ X$ b" w! G5 k( n$ p) U% I& m3 _& Z& e: {- k6 Y
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快速判断南桥好坏的方法/ ]$ A+ h1 u. J: r* \1 X$ ^' W$ M8 r
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一。PCI(A14脚)对地阻值小于80,则南桥损坏。( D5 R& A2Y2 O% ]+ U) S' {
& U1 I1 v# E a: Z# x* g 二。南桥周围电容对地阻值短路。$ O* b&~ [. {. i" u/ v% a
3 z2 o+ t2 H4 C3 G W- m* c 三。USB数据线对地阻值短路。
( g. l& Z0 s. N% M( Y 四。待机时,南桥温度高。8 j( A( U2 x0 c4^/ U
9 V$ K+ b* Z% M& L; ^$ ]0 d 五。COMS跳线中间脚对地阻值短路。& o4 a( ]*R, W1 U: g8 k/ N( b7 o/ }
/ D1 \0 N( V A9 s, @ 六。1117稳压管中间脚对地阻值短路。3 C" e, r0 f$ N
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